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透視電子顯微鏡 檢測服務中心麵向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新材料等,為客戶提供包括無損分析、失效分析、物理性能測試、微納分析、可靠性與壽命評估、工藝製程等在內的技術解決方案。


透射電子顯微鏡

型號:HT7700

廠家:日立

主要用途HT7700型透射電子顯微鏡是一款全新設計的高級顯微鏡,專門用於生物和納米材料的觀察。尤其適用於對低襯度和不耐電子輻照的材料,同時具有極高的對比度和高分辨率的成像功能,其配備的STEM探測器可以通過掃描電子束得到明場透射像。該電鏡采用實時電荷耦合裝置照相機取代雙筒顯微鏡觀察樣品,實現了操作人員可在正常室內光照條件下觀察樣品。
主要配置1.主照相機2.STEM探測器
3.實時電荷耦合熒光屏照相機4.單傾樣品杆
性能指標1.LaB6電子槍2.加速電壓:40-120 kV 
3.放大倍數:200 – 200,000(高反差模式)

           4,000 – 600,000(高分辨率模式)

            50 – 1,000(低倍模式)


4.晶格分辨率:0.24nm@100kv
5.換樣時間小於1min.

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