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冷熱衝擊試驗 檢測服務中心麵向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新材料等,為客戶提供包括無損分析、失效分析、物理性能測試、微納分析、可靠性與壽命評估、工藝製程等在內的技術解決方案。

冷熱衝擊試驗的目的是用來揭露機械弱電和性能下降情況,許多樣品在使用、裝卸、運輸過程中都易經受到衝擊,對元器件型樣品尾簽定或質量管理而進行的結構完整性試驗。


參考標準:GB/T 2423.5 / IEC60068-2-14 / EIA-364-32 / MIL-STD-202
測試服務:

溫度範圍(高溫):+60~ 300

        (低溫):-70~ 0

試驗脈衝波形:後峰鋸齒半正弦梯形、半正弦
試驗周期:0.5,1, 6, 11,18ms

試驗設備:

圖片2

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