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高溫試驗 檢測服務中心麵向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新材料等,為客戶提供包括無損分析、失效分析、物理性能測試、微納分析、可靠性與壽命評估、工藝製程等在內的技術解決方案。

高溫試驗是一種標準的試驗程序,用以確定經受溫度突變不致產生損傷作用的元件、設備、電子產品及其他產品在高溫下貯存和使用的適應性。


參考標準:GB/T 2423.2 / IEC 60068-2-2
測試服務:溫度範圍(高溫):+60~ 300
溫度波動:±1℃
試驗周期:2h, 16h, 72h, 96h
試驗設備:圖片2








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