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C-SAM 聲學掃描 檢測服務中心麵向集成電路、電子元器件、半導體、PCBA、LED、汽車電子、新材料等,為客戶提供包括無損分析、失效分析、物理性能測試、微納分析、可靠性與壽命評估、工藝製程等在內的技術解決方案。

聲學掃描顯微鏡是一種非破壞性的檢測組件的完整性,內部結構和材料的內部情況的儀器,作為無損檢測分析中的一種,它可以實現在不破壞物料電氣能和保持結構完整性的前提下對物料進行檢測。被廣泛的應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、質量控製(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(R&D)等領域。



SonoScan9500

檢測圖片



檢測服務範圍:


1.微電子:塑封IC,陶瓷電容,模片固定,芯片級封裝,倒裝,印刷電路板(PCB)等2.微機械係統:粘結芯片,製造工藝評估,包裝
3.軍事/航天/汽車電子:高可靠性資格篩選,產品升級篩選4.材料:陶瓷,剝離,金屬,塑料,化合物
5.其他:微陣列芯片,生物芯片,微射流技術,傳感器等



詳細參數:


1.超聲波探頭頻率:5M到450M

2.超聲波掃描模式:A-Scan(某點掃描)、B-Scan(塊掃描)、

C-Scan(層掃描)、Multi-Scan(多層掃描)、Q-BAM(虛擬橫截麵)、

T-Scan (穿透式掃描)、3-V(3維圖像)、Tray-Scan(盤掃描)

3.最大掃描範圍:12.9*12.4英寸4.最大分辨率:8192*8192
5.選擇的聲波寬度:0.25納秒到1微秒6.Z軸分辨率:9納米



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