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老化測試

一家專注於半導體、集成電路、LED老化測試係統、工業自動化測試檢測產品的設計、研發、銷售以及提供相關檢測技術服務和支持的科技公司。

老化測試
電子產品老化係統
產品描述

目前,國內外普遍采用高溫老化測試工藝來提高電子產品的穩定性和可靠性,通過高溫老化測試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產過程中存在的隱患提前暴露,保證出廠的產品能經得起時間的考驗。 AG亚游集团自主設計的高速動態老化測試係統,測試通道可達48-96通道,廣泛應用於半導體、集成電路、電子元器件、SDRAM, DRAM, SRAM, EEPROM, EPROM, FLASH內存器件和邏輯電路.同時可為客戶設計與定製老化測試係統、老化板。

老化測試設備

Burn-in System老化係統示意圖


軟件界麵-1軟件界麵-2

Software Interface係統軟件界麵示意圖

BIB

Burn-in Board老化板

Layout

Layout Design:布線設計

LED Driver Board

Driver Board 驅動板


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