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老化測試

一家專注於半導體、集成電路、LED老化測試係統、工業自動化測試檢測產品的設計、研發、銷售以及提供相關檢測技術服務和支持的科技公司。

老化測試
電子產品老化係統
產品描述 為了達到滿意的合格率,幾乎所有產品在出廠前都要先經過老化。製造商如何才能夠在不縮減老化時間的條件下提高其效率?在老化過程中進行功能測試的新方案,以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時間問題。 在半導體業界,器件的老化問題一直存在各種爭論。像其他產品一樣,半導體隨時可能因為各種原因而出現故障,老化就是通過讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內出現,避免在使用早期發生故障。如果不經過老化,很多半導體成品由於器件和製造工藝複雜性等原因在使用中會產生很多問題。 在開始使用後的幾小時到幾天之內出現的缺陷(取決於製造工藝的成熟程度和器件總體結構)稱為早期故障,老化之後的器件基本上要求100%通過這段時間。準確確定老化時間的唯一方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統計數據,而大多數生產廠商則希望減少或者取消老化。 老化工藝必須要確保工廠的產品滿足用戶對可靠性的要求,除此之外,它還必須能提供工程數據以便用來改進器件的性能。

      國內外普遍采用高溫老化測試工藝來提高電子產品的穩定性和可靠性,通過高溫老化測試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產過程中存在的隱患提前暴露,保證出廠的產品能經得起時間的考驗。 AG亚游集团自主設計的高速動態老化測試係統,測試通道可達48-96通道,廣泛應用於半導體、集成電路、電子元器件、SDRAM, DRAM, SRAM, EEPROM, EPROM, FLASH內存器件和邏輯電路.同時可為客戶設計與定製老化測試係統、老化板。

  • Max loading: 64 Burn In Boards (4 zones)

  • 72 channels  &  96 channels (Z1,Z2,Z3,Z4)

  • Temp. range: 70~150 degree C

  • Total 10 groups of power supply

  • SystemINCAL

  • Digital & Analog MIX

  • 2 different VIH (0.75V-5.5V)

  • Vector: NRZ 

  • Memory : 4M 

  • Frequency10M

  • Driver current:  0.6A sink, 0.4A source


1.將耗時的功能測試移到老化中可以節約昂貴的高速測試儀器的時間。如果老化後隻進行參數測試及很少的功能測試,那麽用現有設備可測試更多器件,僅此一點即可抵消因采用老化測試方案而發生的費用。 

 

2. 達到預期故障率的實際老化時間相對更短。過去器件進行首批老化時都要先經過168小時,這是人們期望發現所有早期故障的標準起始時間,而這完全是因為手頭沒有新器件數據所致。在隨後的半年期間,這個時間會不斷縮短,直到用實驗和誤差分析方法得到實際所需的老化時間為止。在老化同時進行測試則可以通過檢查老化係統生成的實時記錄及時發現產生的故障。盡快掌握老化時間可提高產量,降低器件成本。 

 

3. 及時對生產工藝作出反饋。器件故障有時直接對應於某個製造工藝或者某生產設備,在故障發生時及時了解信息可立刻解決可能存在的工藝缺陷,避免製造出大量不合格產品。 

 

4. 確保老化的運行情況與期望相符。通過監測老化板上的每個器件,可在老化一開始時就先更換已經壞了的器件,這樣使用者可確保老化板和老化係統按預先設想的狀況運行,沒有產能上的浪費。


老化測試設備

Burn-in System老化係統示意圖


軟件界麵-1軟件界麵-2

Software Interface係統軟件界麵示意圖

BIB

Burn-in Board老化板

Layout

Layout Design:布線設計

LED Driver Board

Driver Board 驅動板


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